光學(xué)指紋比對儀-刑偵技術(shù)取證設(shè)備廠家、工具痕跡檢驗鑒定設(shè)備
透過顯微鏡或放大鏡進行物證檢驗是一項艱苦、耗時的工作，
刑偵設(shè)備
FX-8B型光學(xué)投影比對儀將兩個放大的物證圖像清晰、穩(wěn)定地投影在顯示屏上，使檢驗者更加輕松地觀察物證的細(xì)節(jié)特征，減輕工作的疲勞程度。可用于檢驗指紋、偽鈔、偽造文件等。
用途：是一種反射式投影儀，可放大兩種需比對的樣本，主要用于公安部門刑事偵破中的痕跡分析，特別是指紋、印文比對。
主要技術(shù)要求： 一檔 二檔
放大倍率： 6.5 × 10×
投影屏最小尺寸： 192×165mm 192×165mm
物方線視場： 29.8×25.5mm 19.4×16.6mm
工作距離： 80mm左右 47mm左右
調(diào)焦范圍： 90mm左右 90mm左右
電 源： 220V/50HZ
鹵 素 燈： 300W/120V 左右